8月12日下午，英國皇家科學(xué)院院士、愛丁堡大學(xué)J Paul Attfield教授應(yīng)邀在屏風(fēng)校區(qū)教八樓三樓會(huì)議室做了題為《Studying Advanced Materials using X-ray and Neutron Powder Diffraction》的精彩講座，學(xué)校黨委副書記吳志強(qiáng)教授到場并致辭，報(bào)告由學(xué)院院長匡小軍教授主持，全校50余名師生參加了報(bào)告會(huì)。
J Paul Attfield教授在講座中深入探討了利用X射線和中子粉末衍射技術(shù)研究先進(jìn)材料的前沿方法，揭示了X射線與中子在材料研究中的獨(dú)特優(yōu)勢。X射線和中子在探測原子結(jié)構(gòu)和磁性方面具有不同的敏感性，使得它們在材料研究中各有千秋。X射線主要用于測量電子密度分布，而中子則更加適合研究核密度和磁矩分布。這些差異使得研究人員可以根據(jù)研究對象的特性選擇最合適的探測手段，從而獲得更加精確的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。此外，J Paul Attfield教授詳細(xì)介紹了彈性散射與X射線單電子散射等過程，以及這些方法在晶體結(jié)構(gòu)確定中的應(yīng)用。他還講解了單晶和多晶粉末衍射實(shí)驗(yàn)的優(yōu)劣，指出單晶實(shí)驗(yàn)雖然能夠提供更多的數(shù)據(jù)，但多晶粉末衍射由于其快速和適用于復(fù)雜條件下的優(yōu)勢，在很多實(shí)際應(yīng)用中更為實(shí)用。
本次講座不僅展示了X射線和中子粉末衍射在材料科學(xué)中的基礎(chǔ)地位，也為未來的研究指明了方向。J Paul Attfield教授的深入剖析為與會(huì)者帶來了新的思考，推動(dòng)了先進(jìn)材料研究的進(jìn)一步發(fā)展。
J Paul Attfield教授是英國皇家科學(xué)院院士，愛丁堡大學(xué)教授，國際固體材料化學(xué)領(lǐng)域的著名學(xué)者。1981-1987在牛津大學(xué)完成本碩博學(xué)習(xí)，1987年-1991年在牛津大學(xué)工作，1991-2003在劍橋大學(xué)工作，2003后在愛丁堡大學(xué)工作。迄今已在Nature等國際學(xué)術(shù)雜志上發(fā)表學(xué)術(shù)論文400余篇，他引11000余次，組織國際學(xué)術(shù)會(huì)議20余次。目前擔(dān)任多個(gè)知名國際期刊的顧問委員，并任職于多個(gè)國際學(xué)術(shù)委員會(huì)，包括英國皇家學(xué)會(huì)材料化學(xué)委員會(huì)和歐洲散裂源衍射咨詢委員會(huì)等，英國皇家科學(xué)學(xué)會(huì)于2022年授予John B. Goodenough Award。
吳志強(qiáng)副書記到場并致辭
J Paul Attfield教授作講座
講座現(xiàn)場
（一審：尹從嶺；二審：馬文碩；三審：匡小軍）
